島津SHIMADZU SMX-1000 Plus 微焦點(diǎn)X射線透視檢查裝置 將使用性和功能提升到極致的X射線檢查裝置。原來的SMX-1000/SMX-1000L是業(yè)界檢查機(jī)器的參照系,現(xiàn)在我們在此基礎(chǔ)上開發(fā)出了更加簡潔的島津SHIMADZU SMX-1000 Plus 微焦點(diǎn)X射線透視檢查裝置 。新機(jī)型將過去備受好評的操作性能進(jìn)行了進(jìn)一步提升,并使操作界面更加簡潔易懂,增大的透視圖像和外觀圖像提高了圖像的易讀性。新系統(tǒng)大幅度地簡化了測量功能,通過無須復(fù)雜參數(shù)設(shè)定的一鍵式操作即可得到測量結(jié)果;除在外觀圖像上可實(shí)施導(dǎo)航、步進(jìn)、教學(xué)(Teaching)、圖像一覽顯示等豐富的功能外,又增加了突出關(guān)心區(qū)域顯示等的新功能。
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1.進(jìn)一步提高操作性:界面布局全面改良,更加簡潔、易懂,圖像加大,可比老機(jī)型更加直接地完成作業(yè)。
2.清晰的圖像:秉承老機(jī)型的優(yōu)勢,用平板接收器結(jié)合我司的圖像處理技術(shù)得到?jīng)]有變形的清晰圖像。
3. 傾斜透視:從傾斜方向進(jìn)行透視,能夠發(fā)現(xiàn)垂直透視不能發(fā)現(xiàn)的不良點(diǎn)。
4.簡單的測量:我們運(yùn)用自發(fā)研制的圖像處理技術(shù),將原來設(shè)定繁瑣的測量參數(shù)進(jìn)行自動最優(yōu)化處理,一鍵操作即可獲得測量結(jié)果。
用途:島津SHIMADZU SMX-1000 Plus 微焦點(diǎn)X射線透視檢查裝置 可通過非破壞的方式,在高放大倍數(shù)下透視檢查高密度實(shí)裝基板或BGA·CSP·系統(tǒng)LSI的超細(xì)微部的連接狀態(tài)(斷線·接觸)。
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